X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀
參考價(jià) | ¥ 155559 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 深圳市天創(chuàng)美科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/7 21:38:02
- 訪問次數(shù) 958
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能量色散X熒光光譜儀,ROHS ROHS2.0 REACH指令檢測儀|化合物分析|元素分析儀|土壤檢測儀|ROHS檢測儀|合金檢測儀|元素分析儀|礦石檢測儀|含鉛量檢測儀
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,建材,汽車,綜合 |
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X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(jì)(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷、耐火材料等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測設(shè)備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、醫(yī)療器械重金屬含量測試、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。下面介紹電鍍膜厚檢測儀器:
鍍層檢測:
2.1、常見金屬鍍層有:
鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi),
可最小測量達(dá)0.001um。
2.3、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、鍍層層數(shù)為1-6層
X射線膜厚測試儀產(chǎn)品優(yōu)勢:
1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。
2. 激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。
可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。
可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性,半定量分析。
操作簡單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結(jié)果。
可針對客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級。
無損檢測,一次性購買標(biāo)樣可長期使用。
使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi),提供*保姆式服務(wù)。
可以遠(yuǎn)程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
可進(jìn)行RoHS檢測(選配功能),應(yīng)對新版中華人民共和國RoHS檢測要求,歐盟及北美RoHS檢測等要求標(biāo)準(zhǔn),精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進(jìn)行分析。
(二)X射線膜厚測試儀產(chǎn)品特征
高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)
Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定,使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法,對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析,可以增加RoHS檢測功能。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點(diǎn)測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時(shí)測量
單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng) [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計(jì)算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計(jì)算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊
Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量。大測量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含*統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。
(三)X射線膜厚測試儀產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
u 測量原理:能量色散X射線分析 | u 樣品類型:固體/粉末 |
u X射線光管:50KV,1mA | u過濾器:多重濾光片自動轉(zhuǎn)換 |
u檢測系統(tǒng):SDD探測器(或Si-Pin) | u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV) |
u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92) | u準(zhǔn)直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應(yīng)用程序語言:韓/英/中 | u分析方法:FP/校準(zhǔn)曲線,吸收,熒光 |
u儀器尺寸:618*525*490mm | u樣品腔尺寸:340*280*108mm |
X射線管:高穩(wěn)定性X光光管
微焦點(diǎn)X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供優(yōu)異性能。
探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀