化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>集成電路測試與分選設(shè)備>探針臺(tái)>FPAPO-AP-200 光電測試探針臺(tái),晶圓光電流測試
FPAPO-AP-200 光電測試探針臺(tái),晶圓光電流測試
- 公司名稱 孚光精儀(中國)有限公司
- 品牌 孚光精儀
- 型號 FPAPO-AP-200
- 產(chǎn)地 www.felles.cn/tanzhentai2.html
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/9/2 16:19:16
- 訪問次數(shù) 584
聯(lián)系方式:華小姐021-22799028 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
光電測試探針臺(tái)是專業(yè)為8英寸和12英寸晶圓光電流測試設(shè)計(jì)的專業(yè)半自動(dòng)變溫光電探針臺(tái),可滿足8英寸和12英寸晶圓變溫光電測試需要,測試溫度范圍-60~350℃,特別適合高溫和低溫環(huán)境下晶圓變溫測試和射頻測試,可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)晶圓對準(zhǔn)和自動(dòng)芯片對準(zhǔn)。
光電測試探針臺(tái)特點(diǎn)
可選擇6'',8''晶圓和12''晶圓配置
測試溫度:-60℃~350℃
適合高功率器件測試20kV DC/200A
可選擇芯片固定配件
可配備護(hù)罩,防止露水凝結(jié)
可配備屏蔽罩,提供較低噪音環(huán)境
配備專用測試軟件,提高晶圓測試效率
采用圖像識(shí)別技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)晶圓對準(zhǔn)和自動(dòng)芯片對準(zhǔn)
光電測試探針臺(tái)應(yīng)用
Low level IV (fA)和Low level CV (fF)
高功率器件探針測試:20KV DC/200A
RF射頻測試
高功率器件測試20kV DC/200A
各種電阻測量,如sheet電阻測量
高溫和低溫環(huán)境下的溫度特性測試
可靠性測試,如TDDB
光電測試探針臺(tái)可選配件
Thermal chuck from -60℃~+350°C
355nm~1064nm激光切割機(jī)
各種光源
三目顯微鏡(標(biāo)配體視顯微鏡)
CCD相機(jī)
Probe card (4.5 inch square PCB)
光電測試探針臺(tái)可連接配合的測試儀器
設(shè)備分析儀/參數(shù)分析儀
功率器件分析儀
源度量單位
曲線跟蹤器
精密LCR儀表
數(shù)字萬用表
阻抗分析儀
網(wǎng)絡(luò)分析器
光電測試探針臺(tái)規(guī)格參數(shù)
型號 | AP-200 | AP-300 |
晶圓卡片尺寸 | ~8英寸 | ~12英寸 |
XY位移臺(tái)行程(粗調(diào)) | X:200mm, Y:400mm | X:320mm, Y:500mm |
XYZ位移臺(tái)控制精度 | 0.1μm | 0.1μm |
XYZ位移臺(tái)重復(fù)定位精度 | ±2μm | ±3μm |
XY位移臺(tái)精度 | ±5μm | ±10μm |
XY位移臺(tái)移動(dòng)速度 | 30㎜/sec(Max) | 25㎜/sec(Max) |
Z位移臺(tái)行程范圍 | 30mm | 80mm |
Z位移臺(tái)移動(dòng)速度 | 25㎜/sec(Max) | 25㎜/sec(Max) |
位移臺(tái)θ范圍 | ±5deg | ±6deg |
θ分辨率 | 0.001度 | 0.000022294deg |
尺寸 | W760×D1000×H1020㎜ | W880×D1260×H1030㎜ |
重量 | 400kg | 800kg |