SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 斷層成像 | 應用領域 | 生物產業 |
基于計算機斷層掃描顯微成像技術（micro-CT）的SKYSCAN 1272 CMOS，是一套創新的、高分辨率的臺式三維X射線顯微成像系統，整合了最新的X射線技術。
1600萬像素sCMOS X射線探測器提供了高的分辨率，可生成高對比度圖像。擴展的探測器視野和增強的X射線靈敏度使掃描時間縮短了一倍。每個切片的原始分辨率高達11200 x 11200像素，可以在不重新掃描樣品的情況下放大到三維體積的任何部分。新的Clean Image™掃描模式從一開始就大大減少了典型的CT偽影，從而提供了高質量的圖像，無需繁瑣的事后校正。
布魯克臺式SKYSCAN 1272 CMOS版可以放置在任何實驗室的實驗臺上，無需占用大量昂貴的實驗室空間。只需一個標準的家用電源插頭即可運行，也不需要水冷或額外的壓縮機。此外，工業級的密封X射線源是免維護的，因此也沒有其他隱性成本。SKYSCAN 1272搭載3D.SUITE軟件。這個全面的軟件包涵蓋了GPU加速重建、2D/3D形態學分析以及表面和體積渲染的可視化。
SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡特點：
Genius模式
SKYSCAN 1272憑借Genius模式可自動選擇參數。只需單擊一下，即可自動優化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。
而且，由于能讓樣品和大尺寸sCMOS鏡頭盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因，SKYSCAN 1272的掃描速度比探測器位置固定的常規系統最多可快5倍。
自動進樣器
SKYSCAN 1272可以選擇配合一個有16個位置的外置自動進樣器，以增加進行質量控制和常規分析時的處理速度。
自動進樣器可以容納不同尺寸的樣品，樣品直徑最大可達25 mm。
可以隨時很方便地切換樣品，不會中斷正在進行的掃描過程。系統可以自動檢測新樣品，LED可以顯示每一次掃描的狀態：準備、掃描和完成。
原位試驗臺
布魯克的材料試驗臺可以進行最大4400 N的壓縮試驗和最大440 N的拉伸試驗。所有試驗臺都能通過系統的旋轉臺自動聯系到一起，而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件，可以設置預定掃描試驗。
布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達到最高+80oC或z低低于環境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗臺一樣，加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接，系統可以自動地識別不同的試驗臺。通過使用加熱臺和冷卻臺，可在非環境條件下檢測樣品，從而評估溫度對樣品微觀結構的影響。
SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡技術參數：
特點 | 參數 | 優勢 |
X射線源 | 40 – 100 kV 10 W < 5 µm 點尺寸，4 W | 免維護、全密封的X射線源 通過快速掃描實現質量控制，或4D XRM |
X射線探測器 | 16 MP sCMOS 探測器（4096 x 4096 像素） | 排列精密的探測器可實現最高分辨率 |
樣品尺寸 | 最大直徑 75 毫米 最大高度70 毫米 | 適用于小-中等尺寸樣品 |
自動進樣器（可選） | 16種樣品，直徑最大可達25 mm 外置 | 無人值守，高通量 大小樣品隨意組合 隨時添加/取出樣品，不中斷掃描過程 |
尺寸 | 1160 mm x 520 mm x 330 mm（寬x深x高） 重量 150 千克 | 節省空間的、適合每一個實驗室的臺式系統 |
電源 | 100-240V AC，50-60Hz，最大3A | 安裝需求低，標準電源即能滿足要求 |
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