foerster探傷儀用探頭6.145.01-7028
- 公司名稱(chēng) 上海巖錫智能科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/5/5 18:22:56
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 1229
聯(lián)系方式:祝經(jīng)理18621658180 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
傳感器,編碼器,開(kāi)關(guān),儀器儀表,夾具磨具,泵閥,電機(jī)減速機(jī),齒輪箱傳動(dòng)件,機(jī)床卡盤(pán),電子元器件,插頭電纜
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,冶金,制藥,綜合 | 靈敏度范圍 | 0 – 20 dB |
foerster探傷儀用探頭6.145.01-7028
TIEDE渦流探傷儀MP -1,20A/cm 133 010
TIEDE磁粉探傷檢測(cè)儀MP-1, 5 A/cm 133 011
foerster探傷儀用探頭PART NO.6.461.01-2050 1660870
foerster探傷儀用探頭6.145.01-7028
rohmann探傷儀探頭600217 KDS 2-2 Metall
rohmann探傷儀探頭KDS 2-2 Metall
GE探傷儀用探頭ROWA R72-T60 7,5B1Z
ROLAND渦流探傷儀用探頭EC12x30IT10-100-S
foerster探傷儀用探頭6.145.01-7028
rohmann探傷儀探頭KDS 2-2 Metall
foerster探傷儀用探頭PART NO.6.461.01-2050 1660870
foerster探傷儀用探頭6X7.5MM DIP-ARRAY / Order number: 1951700
Fiessler Elektronik金屬探傷儀GLSL 250
pruftechnik探傷儀用探頭LABV656C-6N52 (s-nr:1231498)
PROMESS探傷儀用探頭IM42-H13; φ4,8 plan
交變場(chǎng)漏磁通法的工作原理
交流漏磁測(cè)試
交流磁場(chǎng)或交流漏磁測(cè)試使用兩個(gè)環(huán)繞的磁軛,交流電流流過(guò)這些磁軛。這些磁軛在橫向非接觸式地磁化測(cè)試材料。磁通量集中在材料表面上,因此對(duì)于從大約 100 到 100 米的微米級(jí)表面缺陷的檢測(cè)特別敏感。 100 µm 深。軛和測(cè)試材料之間的距離是幾毫米。在軛腿之間有帶有受保護(hù)探針的測(cè)試鞋,這些探針通過(guò)接觸掃描表面。
間歇工作的探頭在任何時(shí)候都只能檢測(cè)到整個(gè)表面的一小部分。因此,非常小的材料缺陷會(huì)在比例方面產(chǎn)生很大的干擾。在無(wú)缺陷材料的情況下,磁通量在材料中產(chǎn)生閉合電路。
實(shí)際漏磁通在暴露缺陷處產(chǎn)生。磁軛的頻率設(shè)置得越高,磁化電流越靠近表面流動(dòng)(趨膚效應(yīng))。在材料中的缺陷處,磁通量從缺陷上方的材料表面出現(xiàn)。這被稱(chēng)為漏磁通,最終可以被視為用戶(hù)界面上的信號(hào)。
恒定場(chǎng)漏磁通法的工作原理
直流漏磁通測(cè)試
恒定磁場(chǎng)或直流漏磁通方法使整個(gè)材料橫截面磁化。 這使得檢測(cè)管內(nèi)表面和外表面的缺陷成為可能。 內(nèi)部缺陷的檢測(cè)隨著壁厚的增加而減少。
磁通量由兩個(gè)旋轉(zhuǎn)磁軛組成,用于檢測(cè)縱向缺陷(見(jiàn)左圖)。 發(fā)生在缺陷位置的漏磁通由旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)傳感器捕獲。
磁通量由縱向排列的兩個(gè)固定環(huán)繞線(xiàn)圈產(chǎn)生,用于檢測(cè)橫向缺陷(見(jiàn)右圖)。 沿圓周的幾個(gè)固定磁場(chǎng)傳感器捕獲發(fā)生的漏磁通。
緊湊型移動(dòng)式裂紋測(cè)試儀
DEFECTOMETER M 1.837 非常適合所有需要移動(dòng)式裂紋測(cè)試的情況。 該裝置具有從 20 µm 開(kāi)始的缺陷分辨率和眾多自動(dòng)功能。 LED 刻度讀數(shù)和 LCD 顯示屏即使在光天化日之下或*黑暗的情況下也能確保良好的易讀性。 35 小時(shí)的超長(zhǎng)使用壽命和 USB 端口使其成為手動(dòng)裂紋和硬度測(cè)試以及材料分離。
您的優(yōu)勢(shì)一目了然
高靈敏度,缺陷分辨率從 20 µm
操作簡(jiǎn)單
自動(dòng)提離、歸零和傾斜補(bǔ)償
提離探頭警告
LED 刻度顯示和 LCD 顯示的易讀性非常好
帶激活背光的 35 小時(shí)運(yùn)行
USB 端口用于測(cè)量結(jié)果的可視化和記錄
可以使用早期 DEFECTOMETER 的探頭