日本巖崎IWATSU CS-5400半導(dǎo)體曲線圖示儀
- 公司名稱 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/20 20:06:58
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堅(jiān)融實(shí)業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——通過德國(guó)萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制工廠!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——儀器儀表設(shè)備代理經(jīng)銷商中唯YI 一家有技術(shù)支持工程師的公司!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——實(shí)繳注冊(cè)資金人民幣壹仟萬元整！實(shí)繳資本同行業(yè)中居全國(guó)QIAN三!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——抗金融風(fēng)險(xiǎn)實(shí)力超QIANG，且為行業(yè)里極少數(shù)通過會(huì)計(jì)事務(wù)所嚴(yán)格審計(jì)的公司，公司遵紀(jì)守法，用戶合作安全可靠!
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計(jì)量，全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!
專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年，志在破舊立新！填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們先進(jìn)獨(dú)TE的經(jīng)營(yíng)理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供具競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。
經(jīng)營(yíng)品牌及產(chǎn)品：
一、測(cè)試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實(shí)際應(yīng)用，撰寫有上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用文章】：
USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測(cè)試、半導(dǎo)體I-V測(cè)試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗(yàn)、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......
二、環(huán)境可靠性試驗(yàn)/拉力試驗(yàn)/幾何精密測(cè)量/機(jī)器人手臂：
愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、
高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動(dòng)臺(tái)、英斯特朗INSTRON拉力試驗(yàn)機(jī)。海克斯康HEXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/智能機(jī)械人手臂。
三、靜電檢測(cè)消除：
DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測(cè)試儀、靜電測(cè)試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測(cè)試儀、電荷電量庫(kù)侖計(jì)、MET ONE百級(jí)潔凈室塵埃粒子計(jì)。
四、電子測(cè)量?jī)x器：
是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國(guó)EA電源、電子負(fù)載、萬用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計(jì)、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號(hào)源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)、電池測(cè)試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測(cè)試儀。
五、生物制藥化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器/傳感器：
賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計(jì)、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器，天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計(jì)。COSMOS潤(rùn)滑油鐵粉濃度計(jì)。
六、金相設(shè)備耗材：
賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計(jì)。
企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實(shí)際測(cè)試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測(cè)試》、《存儲(chǔ)器SD4.1、eMMC5.1測(cè)試》、《電腦周邊USB3.0、UART測(cè)試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測(cè)試》、《MVB、WTB總線軌道交通測(cè)試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測(cè)試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測(cè)試》、《GB/T國(guó)標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測(cè)試方案》、《防靜電地板/臺(tái)面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測(cè)試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測(cè)試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測(cè)試評(píng)估》、《6517B與B2985A高阻表測(cè)量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測(cè)試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)工作站測(cè)量線性掃描伏安特性CV、電流-時(shí)間曲線I-t、電勢(shì)、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測(cè)試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測(cè)試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測(cè)試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號(hào)采集/射頻微波測(cè)試》、《音視頻綜合測(cè)試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測(cè)試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測(cè)多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，汽車電子連接器微小電阻測(cè)試》、《靜電電量Static Charge電荷庫(kù)侖Coulomb測(cè)試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計(jì)，DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實(shí)驗(yàn)》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測(cè)試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測(cè)試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測(cè)試》、《半導(dǎo)體材料SiC，GaN等電流/電壓特性分析和功能測(cè)試》、《光電子/納米電子器件測(cè)試》、《LED照明測(cè)試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測(cè)試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測(cè)試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測(cè)試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動(dòng)系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測(cè)測(cè)試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗(yàn)》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗(yàn)》、《符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測(cè)試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測(cè)定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國(guó)安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測(cè)試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測(cè)試》、《干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和模式高壓加速老化試驗(yàn)》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗(yàn)》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用解決方案文章，為工業(yè)測(cè)試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。
堅(jiān)忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念，嚶其鳴矣 求其友聲，我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠(chéng)共贏合作，為祖國(guó)測(cè)試行業(yè)“添磚加瓦”！
代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證：
用戶培訓(xùn)：
總線測(cè)試協(xié)議解碼邏輯分析儀，靜電阻/靜電場(chǎng)測(cè)試儀，源表，干燥箱烘箱，高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱，LCR阻抗分析儀，示波器，頻譜儀，耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,汽車 |
|---|
專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
日本巖崎IWATSU CS-5400半導(dǎo)體曲線圖示儀是新穎的曲線圖示儀, 可以支持大峰值從3,000V/400A至15,000V/8,000A. CS系列不僅適用于高電壓或高電流功率器件 (IGBT 和功率 MOSFET) 的特性測(cè)試, 還可用于各種半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測(cè)試, 及電力電子器件 (如 SiC 和 GaN) 的電容測(cè)試 (選件 CS-603A/CS-605A). 測(cè)試結(jié)果可以存儲(chǔ)在內(nèi)存中, 或通過標(biāo)配的USB 端口和 LAN 接口被發(fā)送到 PC.
日本巖崎IWATSU CS-5400半導(dǎo)體曲線圖示儀產(chǎn)品應(yīng)用
適用于高電壓或高電流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測(cè)試
電力電子器件 (如 SiC和GaN) 的電容測(cè)量 (選件CS-603A/CS-605A)
可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
靜態(tài)特性測(cè)試包括漏電流, 飽和電壓, VF和Vth (附圖)
傳輸特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路模塊的測(cè)試功能
器件測(cè)試
可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行多個(gè)器件的測(cè)試和記錄. 操作員只需根據(jù)器件替換和連接更改來輸入樣本名稱, 以重復(fù)相同的測(cè)試. 在既定條件下判斷 (通過/失敗) 將顯示每個(gè)測(cè)試與圖像和波形數(shù)據(jù)也將自動(dòng)存儲(chǔ)(附圖)
半導(dǎo)體溫度特性測(cè)試評(píng)估
CS-810控制加熱板. 儘管測(cè)試需要很長(zhǎng)的時(shí)間 (如溫度測(cè)試), 仍可自動(dòng)執(zhí)行 (附圖)
痠勞測(cè)試
在痠勞測(cè)試中可以包含各種各樣的參數(shù). CS-810 軟件支持長(zhǎng)時(shí)間可靠性測(cè)試. 通過曲線圖示CS-810監(jiān)察電壓和電流, 那些曲線的區(qū)別能被記錄下來. 痠勞測(cè)試可以實(shí)現(xiàn)多種參數(shù)的自動(dòng)測(cè)量. 偏置會(huì)停止超越電流或電壓的限制值并以此設(shè)定為下限和上限的極限值. CS-810 軟件測(cè)量 Ic 或 Vce (區(qū)間: 10s 至 2h) 和保持一定的電壓或電流 (10s 至 1,000h) (附圖)
與探針臺(tái)共用時(shí), 可實(shí)現(xiàn)晶圓測(cè)試 (附圖)
產(chǎn)品功能
電子電力元件或器件測(cè)試波形特性的功能顯示 (附圖)
配備選件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可實(shí)現(xiàn)電子電力器件如SiC和GaN等的電容測(cè)試
在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自動(dòng)與掃描電容測(cè)試
曲線圖示儀的測(cè)試適配器可用于各種器件封裝類型
測(cè)試參數(shù)包括:
Cies, Ciss (輸入電容)
Coss (輸出電容)
Cres, Crss (反向傳輸電容)
Ct (端子間的電容)
Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已計(jì)算)
Rg (柵極電阻)
可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
具有外部聯(lián)鎖功能的恒溫箱高低溫試驗(yàn)
與電腦全自動(dòng)化結(jié)合
CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件 (選件)
通過對(duì)主機(jī)的遠(yuǎn)程控制, 可實(shí)現(xiàn)各種自動(dòng)測(cè)試的軟件. 傳統(tǒng)上通過曲線圖示儀難以進(jìn)行的疲勞測(cè)試. 加熱實(shí)驗(yàn)或同時(shí)控制恒溫箱進(jìn)行多溫度點(diǎn)實(shí)驗(yàn)都可使用本軟件來實(shí)現(xiàn) (附圖)
USB 存儲(chǔ)器
圖像: 數(shù)據(jù)和設(shè)置條件
格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可選擇為黑色或白色, 彩色或單色)
波形數(shù)據(jù): 文本文件和二進(jìn)制文件
遠(yuǎn)程控制工具
如因保密需要而冇法使用USB存儲(chǔ)器時(shí), 可以通過安裝在PC的遠(yuǎn)程控制工具進(jìn)行數(shù)據(jù)存取
以太網(wǎng)
標(biāo)準(zhǔn)配置 (主機(jī)背面)
測(cè)試點(diǎn)數(shù)可調(diào)整.可根據(jù)需要的掃描速度及分辨率來設(shè)置. 根據(jù)不同用途可改變掃描方向. 同時(shí)具有客戶功能, 可以僅對(duì)某一段進(jìn)行掃描, 特別是在自動(dòng)測(cè)試時(shí)可以實(shí)現(xiàn)高速且高分辨率的測(cè)試(附圖)
限制掃描功能 (選件CS-800)
在一般的掃描測(cè)試中加入電流, 電壓的限制功能. 限制在被測(cè)模塊上印加的電流值, 電壓值以起到保護(hù)作用. 也可在達(dá)到目標(biāo)值時(shí)停止掃描(附圖)
Vth-hFE自動(dòng)檢測(cè)功能(選件CS-800)
可在條件設(shè)?後進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試, 避免了之前的繁雜操作
Constant 功能 (選件CS-800)
可印加規(guī)定電壓或規(guī)定電流. 與CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件配合使用時(shí), 可使用半導(dǎo)體曲線圖示儀進(jìn)行自動(dòng)疲勞測(cè)試
溫度特性測(cè)試 (選件CS-810)
通過CS-810半導(dǎo)體測(cè)試軟件對(duì)曲線圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板的自動(dòng)控制, 實(shí)現(xiàn)溫度特性評(píng)估試驗(yàn)的全自動(dòng)測(cè)試 (附圖)
CS-810是一個(gè)可安裝于電腦中的選件應(yīng)用軟件. 通過以太網(wǎng)控制圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板等設(shè)備, 經(jīng)簡(jiǎn)單的設(shè)置後就可將一直以來只能手動(dòng)測(cè)試的曲線圖示儀實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試, 大幅地提升工作效率
全自動(dòng)化測(cè)試:測(cè)試→記錄→判斷. 提高品管和品檢的工作效率 (附圖)
模塊或數(shù)個(gè)芯片, 器件自動(dòng)切換測(cè)試
可自動(dòng)控制加熱板, 全自動(dòng)進(jìn)行六合一模塊的溫度特性測(cè)量
測(cè)試結(jié)果窗口 (附圖)
波形比較功能: 可將產(chǎn)品開發(fā)時(shí)的不穩(wěn)定狀態(tài)或不良分析時(shí)測(cè)得的多個(gè)波形進(jìn)行同屏比較, 或通過波形比較來判斷是否合格 (附圖)
產(chǎn)品特點(diǎn)
顯示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶顯示屏
正確測(cè)試半導(dǎo)體如IGBTs, MOSFETs, 晶體管和二極管解決方案
采用電路圖模式顯示內(nèi)部的配線狀態(tài) (CONFIGURATION), 更好地避免模塊測(cè)試時(shí)的誤操作(附圖)
WAVE模式: 能確認(rèn)實(shí)際印加電流和電壓波形的監(jiān)察模式 (附圖)
可以像示波器一樣通過觀察模塊上實(shí)際印加電流和電壓的波形來確定脈寬和實(shí)際測(cè)試點(diǎn) (Timing)
可通關(guān)確認(rèn)實(shí)際波形, 適時(shí)調(diào)整脈寬和測(cè)試點(diǎn)
避免示波器的探棒影響, 可確認(rèn)實(shí)時(shí)的異常信號(hào)
可非常容易地確認(rèn)模塊發(fā)熱等引起的振蕩等熱異常情況
可實(shí)現(xiàn)SiC和GaN等器件的電容測(cè)試 (選件CS-603A/CS-605A)
可實(shí)現(xiàn)晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
標(biāo)配LAN和USB接口
標(biāo)準(zhǔn)配件
CS-301: CS-3100標(biāo)配測(cè)試臺(tái)S
CS-302: CS-3200和CS-3300標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M
CS-303: CS-5100, CS-5200和CS-5300標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M
CS-304: CS-5400標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M
測(cè)試臺(tái)M專用快裝面板: CS系列標(biāo)配快裝面板 (除CS-3100外)
CS-500: CS-3100, CS-3200, CS-3300, CS-5100, CS-5200, CS-5300, CS-5400標(biāo)配測(cè)試端口轉(zhuǎn)接夾具
CS-005: CS系列標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)線套裝(除CS-3100外)
CS-006: CS-5400標(biāo)配20cm高電流電纜 (2條)
CS-007: CS-10400, CS-10800, CS-12800, CS-15800標(biāo)配30cm 高電流電纜 (2條)
LAN接口
USB接口
操作手冊(cè)
電源線
產(chǎn)品選項(xiàng)
CS-305: 測(cè)試臺(tái)L, 尺寸: 630mm (寬) x 520mm (高) x 530mm (深)
CS-307: 測(cè)試臺(tái)L, 尺寸: 500mm (寬) x 520mm (高) x 520mm (深)
CS-307H: CS-5400測(cè)試臺(tái)L
CS-306: CS-3xxx和CS-5xxx探針臺(tái)連接線 ((除CS-5400外)
CS-308: CS-5400探針臺(tái)連接線
CS-501A: TO 類測(cè)試夾具
CS-502: Axial 類測(cè)試夾具
CS-503: TO-263-3 (D2PAK) 類測(cè)試夾具
CS-504: TO-252-3 類測(cè)試夾具
CS-505: TO-263-7 類測(cè)試夾具
CS-506: TO-252-5 類測(cè)試夾具
CS-507: SC-70-3/SOT-323-3 類測(cè)試夾具
CS-508: SMD 芯片類測(cè)試夾具
CS-509: SC-59A/SOT-23-3 類測(cè)試夾具
CS-510: SC-62/SOT-89 類測(cè)試夾具
采購(gòu)中心
化工儀器網(wǎng)