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化工儀器網>產品展廳>行業專用儀器及設備>其它行業專用儀器>其它專用儀器>XROS MF30 全功能X射線顯微鏡

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XROS MF30 全功能X射線顯微鏡

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上海昊量光電設備有限公司  
Aunion Tech Co., Ltd
專業源自專注  專注成就未來

自2008年成立以來,昊量光電專注于光電領域的技術服務與產品經銷,致力于引進guo外*先進性與創新性的光電技術與可靠產品,為國內Z前沿的科研與工業領域提供優質的產品與服務,助力中國智造與中國創造! 目前,昊量光電已經與來自美國、歐洲、日本的多家光電產品制造商建立了緊密的合作關系。其代理品牌均處于相關領域的發展前沿,產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、精密光學元件等,所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究與國防等。

昊量光電堅持“專業源自專注,專注成就未來”的經營理念。近年來,我們專注于前沿的細分市場,為量子光學、生物顯微、物聯傳感、精密加工、先進激光制造等領域的客戶提供系統解決方案。

作為一家以技術溝通與技術服務見長的高科技企業,我們所有的銷售與技術服務團隊成員都具有理工科方面的專業背景,并在公司接受相關領域的專業培訓,在售前技術溝通、售后產品安裝培訓、產品問題解決、軟硬件增值服務等方面為客戶提供更加專業化的服務!我們專業高效的商務與物流部門憑借多年積累的貿易經驗與規范化的制度流程,保障每一筆訂貨準時安全到達目的地,免除客戶的后顧之憂!

秉承誠信、高效、創新、共贏的核心價值觀,昊量光電堅持以誠信為基石,憑借高效的運營機制和勇于創新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創造價值,實現各方共贏!

立足于光電產業,昊量光電始終堅持價值創造與創新,贏得客戶與合作伙伴的認可,不斷拓展業務領域的新邊疆,立志打造的代理服務品牌!

 

激光器調制器,激光測量加工設備,光學部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統掃描系統,探測器光子計數器,專用實驗設備,相機

產地類別 進口 應用領域 電子
軟件 高壓發生器

 全功能X射線顯微鏡

研究型X射線顯微鏡XROS MF30,使用具有比可見光短的波長的X射線作為探針,獲得具有高空間分辨率的圖像。此系統也集成光學顯微鏡,X射線攝影,局部元素XRF微分析,元素mapping等功能。全功能X射線顯微鏡

 

全功能X射線顯微鏡特點:

微焦點X射線管

用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細管透鏡

一組基本的輻射濾波器

攝像機用于選擇分析區域

用于分析區域調查的光學數碼顯微鏡

光學顯微鏡軸線與x射線探針軸線相結合

工作距離的自動選擇系統

自動X、Y坐標取樣臺,用于分析區域的定位和掃描

分析單元沿Z軸的自動移動

射線檢查用探測器

用于局部XRF分析的硅漂移檢測器

用于分析輕元素的真空測量室

內置的自動X光管水冷卻系統

 

 

軟件:

  • 高壓發生器

  • 采樣和波束定位

  • 真空

 

局部元素分析與元素填圖

  • 用一個經認證的樣品進行校正

  • 一個校準曲線與幾個認證的樣品

  • 特征線能量和強度的測定

  • 定性半定量分析(基本參數法)

  • 從光譜庫中尋找類似物進行光譜比較

  • 用戶定義樣例區域的元素映射mapping

  • 光譜和映射結果存儲到數據文件

  • 對存儲的光譜進行比較,減法,歸一化

  • 在光學和射線圖像上疊加光譜映射圖像結果

  • 自動分析在用戶定義的點的樣本

 

X射線攝影

  • 數字亮度和對比度控制

  • 縮放

  • 測量圖像點間的距離

 

記錄和數據存儲
  • 在數據庫中存儲圖像

  • 保存測量結果并導出到其他Windows程序

  • 數字化圖像記錄到外部媒體

  • 圖像和協議打印

  1.  一組可更換輻射濾光片(12個)

  2. X射線管

  3. 內置水冷系統

  4. 硅漂移探測器

  5. 回看攝像機

  6. 光學顯微鏡軸與微探針軸結合(銳度自動調節)

  7. 光學顯微鏡(手動調整銳度)

  8. 樣品臺(XY位移,精度10um)

束源

微焦點X射線管: 
  • X射線管zui大電壓

45 kV
  • X射線管zui大功率

500 W
  • 陽極材料

Mo, other by request

用于X射線波束形成的可變光束尺寸的聚毛細管透鏡

  • X射線光束直徑

 

30 - 1 000 μm

一組基本的光束濾波器

Zr, Ti, Mo, Ag, Al, Cu, Cl

 

光學研究

光學數字顯微鏡:

  • 大變焦

 

200х

 

樣品定位和mapping

用攝像機選擇分析區域

光學顯微鏡結合X射線探頭的軸線來控制分析區域

樣品和探針移動系統: 
  • 工作距離自動選擇系統

  • 分析單元沿Z軸移動

Z軸定位精度12 μm
  • 一個自動階段的XY對象定位和掃描在一個用戶定義的樣本區域XY定位精度


10 μm
  • zui大掃描區域

150x150 mm
  • zui大樣品尺寸

300х210х100 mm
  • zui大樣品重量

1 kg

 

X射線熒光分析

局部元素分析用能量色散半導體探測器

  • 硅漂移探測器 (SDD)

 
  • 在Mn線上的探測器的能量分辨率

<150 eV
  • 光譜范圍

1 - 40 keV
  • zui大計數率

1 000 000 cps
  • 濃度范圍

from 1 ppm to 100%

 

 X射線攝影
 用于射線照相研究的通過樣本輻射傳輸的點探測器(可選ccd探測器)

 

分析單元

電源 

230 V, 50 Hz

Size (W x D x H)

615 x 665 x 650 mm

Weight

85 kg

 



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