ZetaAPS型 高濃度納米粒度儀zeta電位分析儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海胤煌科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) ZetaAPS型
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/26 14:50:20
- 訪問(wèn)次數(shù) 2518
產(chǎn)品標(biāo)簽
美國(guó)MAS納米粒度儀ZetaAPS型電位分析儀進(jìn)口ZetaAPSZetaAPS電位分析儀ZetaAPS電位儀
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顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀,超聲粒度儀銷售,多功能超聲粒度分析儀,粒度及Zeta電位分析儀,超聲波粒度儀,澄清度檢查專用傘棚燈,傘棚燈,超聲粒度儀超聲電位分析儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,制藥 |
高濃度納米粒度儀zeta電位分析儀
典型應(yīng)用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無(wú)水體系,油漆成像材料。
主要特點(diǎn):
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無(wú)需依賴Double Layer模式,準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn);
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
5)可準(zhǔn)確測(cè)量無(wú)水體系;
6)Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量;
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量;
8)具有自動(dòng)電位滴定功能;
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)被測(cè)樣品無(wú)需稀釋;
2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
3)不需定標(biāo);
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
高濃度納米粒度儀zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)無(wú)需定標(biāo);
2)能測(cè)更寬的粒徑范圍;
3)無(wú)需依賴Double Layer模式
4)無(wú)需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;
6)可適用于無(wú)水體系;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)無(wú)需稀釋,固合量高達(dá)60%;
2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影響測(cè)量;
6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量;
7)可準(zhǔn)確測(cè)量無(wú)水體系;
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測(cè)粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;
2)可測(cè)量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;
3)Zeta電位測(cè)量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));
6)樣品體積:30-230ml;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m