蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730

[產(chǎn)品簡介]

作為VersaXRM系列中的前沿產(chǎn)品，蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730 在科學(xué)探索和工業(yè)研究領(lǐng)域?yàn)槟_啟了多樣化應(yīng)用的新高度。

采用光學(xué)和幾何兩級放大成像架構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學(xué)物鏡耦合技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高襯度和增強(qiáng)的相位襯度成像。基于出色的高分辨率和襯度，蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730拓展了無損成像的研究界限，大大提高了研究靈活性，加快您的研究進(jìn)展。創(chuàng)新的數(shù)據(jù)采集工作流讓您無需對樣品進(jìn)行切割即可實(shí)現(xiàn)對搜索和發(fā)現(xiàn)的感興趣區(qū)域進(jìn)行高分辨成像，實(shí)現(xiàn)從探索到發(fā)現(xiàn)的工作流無縫銜接。全系列的VersaXRM系統(tǒng)都支持快速掃面模式FAST Mode擴(kuò)展，可實(shí)現(xiàn)1分鐘內(nèi)快速三維掃描成像；同時(shí)兩款產(chǎn)品均兼容ART高級重構(gòu)工具箱，利用AI技術(shù)提高成像效率或改善成像質(zhì)量。

[產(chǎn)品特點(diǎn)]

三維無損成像

真實(shí)空間分辨率: 500nm@ VersaXRM 615, 450 nm@VersaXRM 730，最小體素40nm

更快的成像速度

特別的大工作距離下高分辨率，可實(shí)現(xiàn)不同類型、尺寸和類型樣品多尺度成像

吸收、相位和衍射襯度成像模式

4D 原位成像能力

可升級和拓展

利用AI技術(shù)提高成像效率或改善成像質(zhì)量

[應(yīng)用領(lǐng)域]

ü                      材料科學(xué)，如三維無損分析

ü                      生命科學(xué)，如微觀結(jié)構(gòu)成像

ü                      地球科學(xué)，如地質(zhì)、油氣、礦產(chǎn)、古生物等三維成像

ü                      電子和半導(dǎo)體行業(yè)，如形貌測量及失效分析

ü                      原位力學(xué)、變溫試驗(yàn)

ü                      衍射襯度成像，實(shí)現(xiàn)三維晶粒取向分析

復(fù)合材料                                                    電子半導(dǎo)體                                               生命科學(xué)（腦神經(jīng)）

古生物                                                                油氣地質(zhì)（致密砂巖）