蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma系列

[ 產(chǎn)品簡介 ]

蔡司新一代蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡，具有高質(zhì)量的成像和分析能力，將先進(jìn)的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與優(yōu)秀的用戶體驗結(jié)合。利用Sigma系列直觀的4步工作流程，在更短的時間內(nèi)獲得更多的數(shù)據(jù)，提高測試與生產(chǎn)效率?？蛇x配多種探測器，以滿足半導(dǎo)體、能源等新材料、磁性樣品、生物樣品、地質(zhì)樣品等不同的應(yīng)用需求。結(jié)合蔡司原位電鏡實驗平臺，可以實現(xiàn)自動智能化的原位實驗工作流程，高效率獲取高通量、高質(zhì)量的原位實驗數(shù)據(jù)。EDS幾何設(shè)計保證了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、結(jié)果可靠。高分辨、全分析、多擴展、強智能、廣應(yīng)用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科學(xué)和工業(yè)檢測等領(lǐng)域的“多面手”。

[ 產(chǎn)品特點 ]

ü Gemini鏡筒設(shè)計，低電壓高分辨，無漏磁；

ü 廣泛全面的應(yīng)用場景；

ü 豐富靈活的探測手段；

ü 智能高效的工作流程；

ü 先進(jìn)可靠的分析系統(tǒng)；

ü  強大完善的擴展平臺；

[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]

ü 材料科學(xué)，如納米材料高分辨成像，高分子聚合物等不導(dǎo)電樣品成像，電池材料成分襯度成像，二維材料分析；

ü 生命科學(xué)，如生物樣品超微結(jié)構(gòu)成像，冷凍樣品高分辨成像；

ü 地質(zhì)礦物學(xué)，如地質(zhì)樣品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼聯(lián)用分析；

ü 工業(yè)應(yīng)用，如組件失效分析，工藝診斷；

ü電子半導(dǎo)體行業(yè)，如質(zhì)量控制與分析，6英寸Wafer快速換樣，電子束曝光技術(shù)（EBL）；

ü鋼鐵行業(yè)，如夾雜物分析，金屬材料自動原位成像分析；

ü刑偵、法醫(yī)學(xué)；

ü 考古學(xué)、文物保護(hù)與修復(fù)；

NanoVP lite模式下斷裂的聚苯乙烯表面成像

氧化鋁顆粒高分辨二次電子成像

      ETSE探測器氧化鋅枝晶成像                          InLens SE探測器氧化鋯&氧化鐵復(fù)合材料成像

Sense BSD探測器刺毛苔蘚蟲超微結(jié)構(gòu)成像        aBSD探測器超導(dǎo)合金成像