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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>其它測厚儀 >FE-3 嵌入式膜厚檢測儀

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FE-3 嵌入式膜厚檢測儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號 FE-3
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2020/6/12 16:14:31
  • 訪問次數(shù) 905
產(chǎn)品標簽

膜厚測量

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


      大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價·檢查。

  以高速·高精度·高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎, 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例, 為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明 相關方面,對研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。

  在中國的蘇州有設立售后服務點,為了能迅速且周到的為顧客服務而努力。

  我公司的母公司日本大塚電子集團,隸屬于大冢集團, 一直以來都謹守大冢集團 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品),不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品,面向開展業(yè)務,為社會作出貢獻。

 

zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學材料檢測設備,非接觸光學膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 20萬-50萬
應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣

嵌入式膜厚檢測儀 FE-3

嵌入式膜厚檢測儀可高精度測量具有波長依存性的多層膜!

 

產(chǎn)品信息

特 點

•采用分光干涉法

•搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)

•使用光學光纖,可靈活構筑測量系統(tǒng)

•可嵌入至各種制造設備。

•實時測量膜厚

•可對應遠程操作、多點測量

•采用壽命長、安全性高的白色LED光源

測量項目

·多層膜厚解析

用 途

•光學薄膜(超硬涂層、AR薄膜、ITO等)

•FPD相關(光刻膠、SOI、SiO2等)

設備構成

單點型

•半導體晶圓的面內(nèi)分布測量

•玻璃基板的面內(nèi)分布測量

多點型

•實時測量

•流向品質(zhì)管理

•真空室適用

導線型

•實時測量

•寬度方向品質(zhì)管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析

 



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