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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>其它無損檢測儀器/設備> TP200/TP200B測頭本體SF(標準測力)

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TP200/TP200B測頭本體SF(標準測力)

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篤摯儀器簡介:

篤摯儀器(上海)有限公司以“優質成就價值——Focus On Better Quality”為宗旨,專注于計量檢測和材料分析設備的研究、引進與推廣,公司以深厚的工程技術背景和高效率的資源整合幫助企業在原始設計、開發周期、產品質量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性。

篤摯儀器(上海)有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區的合作伙伴,憑借種類齊全的產品資源和服務,涵蓋光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設備,努力為客戶解決日新月異的測量分析技術挑戰,共同提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案,有效推動企業實現既定目標。

篤摯儀器(上海)有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大型國有企業、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業,用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術的精益求精。











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產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 電子,交通,冶金,汽車,電氣

TP200
具有模塊交換功能的超小型測頭,它使用應變片機構,比機械結構式觸發測頭的壽命更長、精度更高

 

測頭本
TP200采用微應變片傳感器,實現優異的重復性和準確的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性,并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數百萬次觸發中的可靠操作。
TP200B采用的技術與TP200相同,但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針

 

系統組件包括:
TP200或TP200B測頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動公差)
TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力:SF(標準測力)或LF(低測力)
PI 200-3測頭接口
SCR200測針交換架
還有一種EO模塊(擴展越程),越程測力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸方向提供保護。

特性與優點:
應變片技術具備優異的測量重復性和準確的3D空間形狀測量精度
零復位誤差
無各向同性影響
六向測量能力
測針測量距離達100 mm(GF測針)
測頭模塊快速交換,無需重新標定測尖
壽命 >1000萬次觸發
TP200/TP200B測頭本體

TP200測針模塊:
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭越程保護功能。有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的越程測力。

 

模塊

SF(標準測力)

LF(低測力)

EO(長越程)

應用 

一般使用。

小直徑測球或必須使用小測力的場合。

額外越程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。

說明

測針長可達100 mm,測球直徑 > 1 mm。

測球直徑小于1 mm。

與SF的越程測力相同。

測頭Z軸的額外越程為8 mm。

低測力模塊

LF

標準測力模塊

SF

長超行程測力模塊

EO

一般使用,測針長可達100.00 mm,測球直徑 > 1.00 mm。

小直徑測針球頭(測球直徑小于1 .00mm。)或必須使用小測力的場合。

額外超程使坐標測量機在較高的測量速度下安全停機。與SF的超程力相同。測頭Z軸的額外超程為8.00 mm。

注:TP200B采用的技術與TP200相同,但設計具有更高的振動公差。這有助于克服因測量機傳導

振動或在定位速度很高的情況下使用長測針所引發的“空氣”觸發問題。

*選應用

高精度自動三坐標測量機

傳感方向

±X、±Y、+Z

單向重復性(2σμm)

(測針長度=50.00mm)

(測量速度=480.00mm/min)

觸發水平1:0.40μm

觸發水平2:0.50μm

XY (2D) 輪廓測量偏差

(測針長度=50.00mm)

(測量速度=480.00mm/min)

TP200

TP200B

觸發水平1:±0.80μm

觸發水平2:±0.90μm

觸發水平1:±1.00μm

觸發水平2:±1.20μm

XYZ (3D) 輪廓測量偏差

(測針長度=50.00mm)

(測量速度=480.00mm/min)

TP200

TP200B

觸發水平1:±1.00μm

觸發水平2:±1.40μm

觸發水平1:±2.50μm

觸發水平2:±4.00μm

 



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