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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)>FIB-SEM 超高分辨雙束FIB

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FIB-SEM 超高分辨雙束FIB

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公司自成立以來就一直專注于半導體、微組裝和電子裝配等領域的設備集成和技術服務;目前公司擁有一支在半導體制造、微組裝及電子裝配等領域經驗豐富的專業技術團隊,專業服務于混合電路、光電模塊、MEMS、先進封裝(TSV、Fan-out等)、化合物半導體、微波器件、功率器件、紅外探測、聲波器件、集成電路、分立器件、微納等領域。我們不僅能為客戶提供整套性能可靠的設備,還能根據客戶的實際生產需求制訂可行的工藝技術方案。
目前亞科電子已與眾多微電子封裝和半導體制造設備企業建立了良好的合作關系(如:BRUKER、EVG、TRYMAX、CAMTEK、CENTROTHERM、SENTECH、ENGIS、ADT、SONOSCAN、ASYMTEK、MARCH、PANASONIC、HYBOND、OKI、KEKO等),為向客戶提供先進的設備和專業的技術服務打下了堅實基礎。

 

半導體設備,微組裝設備,LTCC設備,化工檢測設備

背散射電子圖像分辨率 0.8nm 產地類別 進口
二次電子圖象分辨率 103nmnm 放大倍數 2500000x
加速電壓 30kV 價格區間 250萬-300萬
儀器種類 場發射 應用領域 醫療衛生,生物產業,電子

S8000G是TESCAN新S8000系列掃描電鏡的第yi個新成員,是一款超高分辨雙束FIB-SEM系統,它可以提供的圖像質量,具有強大的擴展分析能力,并能以ji佳的精度、效率完成復雜的納米加工和操作,可滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求。

S8000G FIB-SEM的優點:

  • 新yi代鏡筒內電子加速、減速技術,保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力

  • *配置的靜電-電磁復合物鏡,物鏡無磁場外泄,實現磁性樣品高分辨成像及分析

  • 配置4個新yi代探測器,可實現9種圖像觀測,對樣品信息的采集更加全面

  • 配置大型樣品室,有超過20個擴展接口,為原位觀測、分析創造了良好的工作環境

  • 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件,并du家實現與TOF-SIMS、Raman聯用

  • 新yi代操作軟件和自動功能,FIB鏡筒具有全自動的離子鏡筒對中,ji大簡化了操作

  • 概述




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