XTDIC-micro系列顯微應變測量系統
系統介紹
新拓三維 顯微應變測量系統 力學性能測量
XTDIC-Micro系列顯微應變測量系統,將數字圖像相關法(DIC)與雙目體式顯微鏡技術結合,通過追蹤獲取顯微鏡下材料表面變形過程的序列二維散斑圖像,解算出被測物體在各變形狀態微觀尺度的三維全場位移場和應變場,實現微小物體變形過程中物體表面的三維坐標、位移及應變的測量,廣泛的應用于生物力學、動態應變測量、高速變形測量、斷裂力學、及動態材料試驗中測量材料特性參數等。
新拓三維 顯微應變測量系統 力學性能測量
基于雙目體式顯微鏡光路系統,在實現顯微觀察的同時,可以實現微小物體的全場應變、位移的實時測量,具有速度快、精度高、易操作等特點。系統的多功能的控制箱提供了各種A/D采集,D/A輸出及相機觸發功能,并配有高精度的四維運動位移控制裝置、顯微應變測量微型拉力試驗機和細微散斑制備裝置,彌補了傳統手段無法進行微小物體變形測量的不足,成為微觀尺度領域變形應變測量的一個了有力測量手段,對于微結構件的力學性能測試具有重要意義。
應用范圍
·微觀形貌、應變分析(微米級、納米級)
·生物力學(骨骼、肌肉、血管等)
·應變計算、強度評估、組件尺寸測量、非線性變化的檢測
·*材料(CFRP、木材、 內含PE的纖維、金屬泡沫、橡膠等)
·零部件試驗(測量位移、應變)
·材料試驗( 楊氏模量、泊松比、彈塑性的參數性能)
·斷裂力學性能
·動力學測量(動態測量、瞬態測量)
·強度評估
·非線性變化檢測
·動態應變測量,如疲勞試驗
·均勻和非均勻材料變形過程中的行為分析
·各種各向同性和各向異性材料變形特性
技術優勢
·系統技術*:國內自主研發的數字圖像相關法三維變形測量系統;自主知識產權的核心算法,技術指標達到*水平。
·系統應用范圍廣:可用于機械、材料、力學、建筑、土木等多個學科的科學研究與工程測量中,適用于大部分材料,實時獲得被測物全場三維坐標、位移、應變數據。
·系統配置靈活:支持幾毫米到幾米的測量幅面;支持百萬至千萬像素相機,支持低速到高速相機,支持千兆網和Camera Link等多種相機接口;支持任意數目相機的同時標定,并可以支持外部圖像標定。
·實時測量:可以實時進行全場應變計算和結果顯示,而非事后處理。
·系統兼容性強:同時兼容單相機二維測量和多相機三維測量;兼容32位、64位系統。
·功能模塊強大:具備圓形標志點動態變形、剛體物體運動軌跡姿態測量功能模塊。
·擴展接口豐富:具備萬能試驗機接口,可實時采集試驗機的力、位移等信號;具備杯突實驗機接口,可以測量材料的FLC曲線;具備體式顯微鏡接口,可以實現幾個毫米甚至更微小物體的三維全場變形應變檢測;支持多相機組同步測量,可以同步測量多個區域的變形應變;系統具備多路A/D輸入、多路D/A輸出、多路開關量輸入和輸出,并可靈活進行擴展。
·產品性能穩定:國內外幾十家使用驗證,性能穩定,包括國內多家軍工用戶(中國飛行試驗研究院、中國飛機強度所、復合材料43研究所等),歐美大學(英國NEWCASTLE大學、英國格拉斯哥大學、美國普渡大學等),國內大學(清華大學、哈爾濱工業大學、南京航空航天大學等)。
·技術支持:自主研發,定制開發靈活;強大的研發技術團隊為您提供全面的解決方案和技術指導,時刻是您科研開發的堅實技術后盾。
系統基本功能:
(1)基本測量功能:
核心技術:工業近景攝影測量、數字圖像相關法;
測量結果:三維坐標、全場位移及應變;
※測量幅面:支持幾毫米到幾米的測量幅面,根據需求可定制更多測量幅面;
※測量相機:支持百萬至千萬像素相機,支持低速到高速相機,支持千兆網和Camera Link等多種相機接口;
※相機標定:支持1-8個相機的同時標定,支持外部圖像標定。
※測量模式:同時支持單相機二維測量和多相機三維測量;
※實時測量:系統支持在線和離線兩種處理模式,在線實時測量在采集圖像的同時,可實時進行三維全場應變計算,而不是事后處理。
計算模式:具備自動計算和自定義計算兩種模式;
測量結果:全場三維坐標、位移、應變數據等動態變形數據,應變模式有工程應變、格林應變、真實應變等三種;
多個檢測工程:系統軟件支持多個檢測工程的計算、顯示及分析;
支持系統:支持32位、64位windows操作系統,具備多線程加速計算功能;
(2)分析報告功能
18種變形應變計算功能:X、Y、Z、E三維位移;Z值投影;徑向距離、徑向距離差;徑向角、徑向角差;應變X、應變Y和應變XY;最大主應變;最小主應變;厚度減薄量;Mises應變;Tresca應變;剪切角;
※坐標轉換功能:321轉換、參考點擬合、全局點轉換、矩陣轉換等多種坐標轉換功能;
※元素創建功能:三維點、線、面、圓、槽孔、矩形孔、球、圓柱、圓錐;
※分析創建功能:點點距離、點線距離、點面距離、線線夾角、線面夾角、面面夾角;
數據平滑功能:均值,中值,高斯濾波等多種平滑功能;
數據插值功能:自動和手動兩種數據插值模式;
材料性能分析:自動計算材料的彈性模量和泊松比等參數;
三維截線功能:可對三維測量結果進行直線或圓形截線分析;
曲線繪制功能:所有測量結果均可以繪制成曲線圖;
成形極限分析功能:可繪制和編輯FLD成形極限曲線;
視頻創建功能:可將測量過程二維圖像或者三維測量結果制作成視頻并輸出保存;
數據輸出功能:測量及分析結果輸出成報表,支持TXT,XLS,DOC格式文件輸出;
5-3、硬件采集控制功能
采集控制箱實現測量頭的控制、多個相機的同步觸發、多路模擬量和開關量數據采集、輸入和輸出信號控制;
A/D采集:模擬量輸入采集,A/D采集的量程由軟件控制,可選量程:±10V、±5V、±2.5V、0~10V;
多種外部觸發信號類型選擇:模擬信號、TTL電平、光電隔離、差分輸入,模擬信號電平可選擇:+10V、+5V、0V、-5V、-10V;
激光器控制:控制激光器;
相機同步控制:多相機外同步觸發信號;
光源控制:控制LED光源;
顯微應變測量接口:配合雙目體式顯微鏡,系統可以實現微小型物體的三維全場變形應變檢測,并可支持掃描電鏡、原子顯微鏡等顯微圖像的應變數據計算;
5-4、擴展接口(系統可以擴充開放接口,用戶可以選擇配置):
※試驗機接口:通過串口通訊或者模擬量實時采集試驗機的力、位移等信號,并與三維全場應變測量數據實現同步,實現應力和應變數據的融合和統一;
※多測頭同步檢測接口:支持1~8個測頭(更多測頭可定制),多相機組同步測量,相機數目任意擴展,可以同步測量多個區域的變形應變,適用于大型物體或者回轉型物體的變形應變測量;
※大尺寸*變形接口:支持攝影測量靜態變形系統,實現*變形和局部全場應變檢測數據的融合和統一;
※標志點動態變形檢測接口:具備圓形標志點動態變形測量功能;
※運動軌跡姿態檢測接口:具備剛體物體運動軌跡姿態測量功能;
典型配置
型號 | XTFLC-MICRO-SD | XTFLC- MICRO -HR |
相機型號 | 2x 230萬(1920 x 1200) | 2x 500萬(2448 x 2048) |
相機幀率 | 160fps | 75fps |
最小分辨率 | 2-3um | 1-2um |
應變測量精度 | 50μ? | |
應變測量范圍 | 0.01%-500% | |
測量范圍 | 1mm~10mm | |
標定板 | 光刻標定板1套 | |
雙目體式顯微鏡 | 顯微鏡連續變倍比:1:6; 物鏡變倍范圍:0.8×~5×; 顯微鏡工作距離:78mm; 調焦行程:105mm; | |
多軸電動位移臺 | 電動位移臺2個、電動旋轉臺1個、電動傾斜臺1個、四軸控制器1個 | |
控制系統 | 標準型 |
應用案例
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