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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>探針臺>mp-10 探針臺零部件耗材probe針座探針轉接頭針桿

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mp-10 探針臺零部件耗材probe針座探針轉接頭針桿

參考價 10000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

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 儀準科技(北京)有限公司是一家專業提供集成電路失效分析及可靠行測試的服務商

主要服務項目:半導體失效分析設備,元器件失效分析可靠性測試

非破壞性分析
 小型測試機 / 半導體I-V特性曲線儀 / 探針臺 / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 /
破壞性分析
 激光開封 / 手動開封 / 酸自動開封機 / 小型半導體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺 / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 /
化學處理
 取晶 / 反應離子刻蝕機 / 碼點染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 /
聚焦離子束
 微線路修改 / 測試鍵生長 / 縱向微切片解剖 / 微區刻蝕 /
可靠性服務
 預處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實驗(HAST) / HTRB / 老化實驗(Burn in) / 高壓高濕實驗(SPP) /
靜電測試(ESD/HBM/MM)
 CDM / Latch up / HBM / MM /
可焊性測試
 沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實驗(Whisker) /
研磨/拋光等耗材銷售
 Allied / ProbeTips /

探針臺probe,開封機laser decap,紅外顯微鏡,微光顯微鏡EMMI,IV自動曲線量測儀

Probe 零配件探針臺零部件耗材probe針座探針轉接頭針桿

MP-08/MP-06 探針座
X-Y-Z 移動精度:100 T.P.I (0.7um)
X-Y-Z 形成:12mm x 12mm x 12mm
底座有磁鉄、真空、磁性反轉(專利設計)等
針座可以搭配:dc tip holder和pico probe、RF probe
綫性移動設計,很好的剋服了傳統螺鏇式設計的蛇行缺陷

探針臺零部件耗材probe針座探針轉接頭針桿

 


MP-01 探針座
X-Y-Z 移動精度:40 T.P.I (3um)
X-Y-Z 形成:12mm x 12mm x 12mm
左右手設計磁鉄底座
綫性移動設計,很好的剋服了傳統螺鏇式設計的蛇行缺陷

 

Triaxial Tubular type 三芯探針桿
進口2米長高品質信號線纜
電流量測精度可以達到20fA以下(需屏蔽)
搭配儀器:keithley 4200、安捷倫4156

Coaxial tip holder 同軸探針桿   
有彈簧夾式、管狀式、鎖螺絲式可選 
進口1.5米長高品質信號線纜
電流量測精度可以達到p*
搭配儀器:keithley 4200(P-IV)、示波器

 

   

        型號                  規格
ST-20-0.5      1 micron dia 硬針
ST-20-2         5 micron dia 硬針 
ST-20-5         10 micron dia 硬針
ST-20-10       20micron dia 硬針
T-4-10           0.2micron dia 軟針

 

多樣式轉接頭
Triaxial 轉 Triaxial
Triaxial 轉 Coaxial
Coaxial 轉 Coaxial



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