Fluke 1535 高壓絕緣電阻測試儀主要特點：
Fluke 1535 絕緣電阻測試儀測量范圍：250V,500 V ,1000 V ,2500 V
1.絕緣電阻量程高達500GΩ；
2.快速測量設計，絕緣阻值快達到穩定讀數；
3.具備自動計算的極化指數（PI）/介電吸收比（DAR）功能；
4.低功耗設計滿足高強度工作需求：2500V測量次數高達1300次*；
5.具備高安全性設計，符合CAT IV 600V標準及電力行業規范DLT845
6。具備高安全性設計，具有危險電壓報警功能
7. 全新高 性設計，包括50°C高溫和80%濕度環境下，依舊保持對應的電氣規格
Fluke 1535 高壓絕緣電阻測試儀技術參數：
| 通用技術指標 | | 顯示屏 | 73.5 mm x 104 mm | | 電池 | 8 節 IEC LR6 AA 堿性電池 | | 外形尺寸（高 x 寬 x 長） | 184 mm x 211 mm x 93 mm | | 重量 | 1.3 kg | | 溫度 | | | 工作溫度 | -10 °C 至 +50 °C | | 存放溫度 | -20 °C 至 +60 °C | | 工作濕度 | 無冷凝（<10 °C） | | | ≤80 % 相對濕度（10 °C 至 30 °C） | | | ≤50 % 相對濕度（30 °C 至 50 °C） | | 海拔 | | | 工作海拔 | 2000 m | | 存放海拔 | 12 000 m | | 過電壓類別 | CAT IV 600 V | | 安全性 | | | 通用 | IEC 61010-1，污染等級 2 | | | IEC 61010-2-033：CAT IV 600 V | | | IEC 61557-1 | | 絕緣電阻測量 | IEC 61557-2 | | 保護措施有效性 | IEC 61557-16 | | 防護 (IP) 等級 | IEC 60529 IP40 | | 電磁兼容性 (EMC) | | | IEC 61326-1：便攜式電磁環境 | | | IEC 61326-2-2 CISPR 11：第 1 組，A 類 |
第 1 組：設備內部產生和/或使用與傳導相關的無線電頻率能量，該能量對于設備自身的內部功能*。 A 類：設備適用于非家庭使用以及未直接連接到為住宅建筑物供電的低電壓網絡的任意設備中。由于傳導干擾和輻射干擾，在其他環境中可能難以保證電磁兼容性。 小心：此設備不可用于住宅環境，且在此類環境中可能無法提供充分的無線電接收保護。 | 絕緣電阻測試 | | 測試儀經校準后在 10 °C 至 30 °C 的工作溫度條件下其度可以維持 1 年。在工作溫度范圍以外（-10 °C 至 +10°C 和 +30 °C 至 +50 °C），波動變化為 5 %時每攝氏度增加 ±0.25 %，波動變化為 20 % 時每攝氏度增加 ±1 %。 | | 測試電壓 | 量程 | 分辨率 | 準確度 | | 250 V | <200 kΩ | 未 | 未 | | 200 kΩ 至 500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | | 0.50 MΩ 至 5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | | 5.0 MΩ 至 50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | | 50 MΩ 至 500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | | 0.50 GΩ 至 5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | | 5.0 GΩ 至 50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | | >50 GΩ | 未 | 未 | | 500 V | <200 kΩ | 未 | 未 | | 200 kΩ 至 500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | | 0.50 MΩ 至 5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | | 5.0 MΩ 至 50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | | 50 MΩ 至 500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | | 0.50 GΩ 至 5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | | 5.0 GΩ 至 10.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | | 10.0 GΩ 至 50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | | 50 GΩ 至 100 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | | >100 GΩ | 未 | 未 | | 1000 V | <200 kΩ | 未 | 未 | | 200 kΩ 至 500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | | 0.50 MΩ 至 5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | | 5.0 MΩ 至 50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | | 50 MΩ 至 500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | | 0.50 GΩ 至 5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | | 5.0 GΩ 至 20.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | | 20.0 GΩ 至 50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | | 50 GΩ 至 200 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | | >200 GΩ | 未 | 未 | | 2500 V | <200 kΩ | 未 | 未 | | 200 kΩ 至 500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | | 0.50 MΩ 至 5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | | 5.0 MΩ 至 50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | | 50 MΩ 至 500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | | 0.50 GΩ 至 5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | | 5.0 GΩ 至 50.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | | 50 GΩ 至 500 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | | >500 GΩ | 未 | 未 |
長條圖量程：0 ? 至 1 T? 絕緣測試電壓度：-0 %，在 1 mA 電流時為 +10 % 電容載荷充電率：5 s/μF 電容載荷放電率：1.5 s/μF | | 量程 | 準確度 | | 漏電流測量 | 1 nA 至 2 mA | ±(20 % + 2 nA) | | 電容測量 | 0.01 μF 至 2.00 μF | ±（讀數的 15 % + 0.03 μF） | | 絕緣電阻測試電壓 | 250 V 至 2500 V | ±(3 % + 3 V) |
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