S系列 探針臺系統
- 公司名稱 深圳市展芯科技有限公司
- 品牌
- 型號 S系列
- 產地
- 廠商性質
- 更新時間 2016/10/20 17:04:55
- 訪問次數 729
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產品應用:
DC(直流)、RF(射頻)、mmW(毫米波)測試
納米級電子器件測試,微機電測試
高功率測試
產品特點:
1. 的全功能型探針臺。
2. 操作簡易、操作效率更高——同軸操作機構(載物臺和顯微鏡X-Y移動基座)。
3. 完整的系統配件,客戶可根據需求將S系列配置為I-V/C-V測試系統、RF/mmW測試系統、高功率測試系統、光電器件測試系統等等。
技術指標 |
載物臺(常規晶圓載物臺) |
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尺寸 | 6"(152.4mm),可選更大尺寸,如8"或12" |
材質 | 不銹鋼 |
平整度 | ≤±2.5μm |
真空區域* | 0,2",4",6"環形吸附(可選真空微孔吸附)** |
真空控制 | 手動控制,獨立真空區域 |
真空驅動方式 | 真空泵 |
載物臺電性能 | 載物臺信號導通,可選擇接地或接信號 |
* 根據載物臺尺寸有所不同,如載物臺尺寸為12",則真空吸附區域為0,2",4",6",8",12"。 ** 除環形吸附外,還可選微孔式吸附式載物臺。 | |
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載物臺移動基座 |
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X-Y軸行程范圍* | 6"*6"(152.4mm*152.4mm),可選更大行程。同軸結構。 |
精度 | ≤5μm |
R軸粗調角度范圍 | 360° |
R軸細調角度范圍 | ±9° |
微調精度 | 0.0001°/deg |
Z軸細調行程范圍 | 13mm |
細調精度 | 1μm |
Z軸快升行程 | 0~6mm, 可調 |
Z軸往復精度 | <1μm |
載物臺快速拖出行程 | 100mm |
*根據載物臺尺寸不同,行程有所不同,如載物臺為12",則X-Y移動行程為12"*12"。 ** 載物臺X-Y為同軸結構,兩操作旋鈕為同軸一體結構,用戶單手可方便操作。 | |
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探針座放置平臺 |
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材質 | 鋼,表面沉鎳處理 |
平臺板尺寸* | 可放置8個CM50或4個RF50探針座 |
平臺板至載物臺高度 | 1.496”(38mm) |
探針座兼容性 | 可兼容磁力或真空吸附底座的探針座 |
Z軸細調行程范圍 | 45mm |
Z軸快升行程 | 350μm |
Z軸往復精度 | <1μm |
*此處為6"探針臺可放置的探針座數量 ,更大尺寸探針臺詳詢客服人員。
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顯微鏡移動基座 |
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X-Y軸行程范圍 | 2"*2"(50mm* 50mm),同軸結構 |
X-Y軸精度 | ≤5μm |
調焦行程 | 2"(50mm) |
精度 | 1μm |
Z軸粗調行程 | 50mm |
氣動升降行程 | 40mm |
技術指標 |
光學系統 |
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類型 | 金相顯微鏡、體視或單筒顯微鏡可選 |
光學放大倍數* | 15X-2000X |
* 根據所選物鏡或顯微鏡放大倍數不同會有不同的光學放大倍數,詳細請咨詢客服人員。 | |
其它信息 |
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臺體尺寸 | 724mm*606mm*610mm(W*D*H) |
重量 | 120kg |
加熱載物臺(可選項) |
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尺寸 | 6"(152.4mm),可選更大尺寸,如8"或12" |
溫度范圍 | 室溫~300℃ |
溫控精度* | 0.5℃(典型值) |
溫度均勻性 | 0.5℃@6"載物臺 |
加熱時間 | <6min(室溫~300℃) |
標準配置的加熱臺為自然冷卻,可選風冷或水冷套件。 |
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RF載物臺(可選項) |
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尺寸 | 6"(152.4mm),可選更大尺寸,如8"或12" |
校準片載物臺 | 2個(獨立真空控制) |
尺寸 | 可放置CS-5等尺寸的校準片 |
校準片載物臺角度調節范圍 | 7° |
材質 | 不銹鋼 |
平整度 | ≤±2.5μm |
真空驅動方式 | 真空泵 |
其它擴展配件(可選項) |
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探針卡夾具 | 可根據探針卡尺寸定制,應用于多點或自動測試 |
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激光器 | 1064nm,532nm,355nm,三個波段自由配置,對芯片線路進行切割修改。 |
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半自動控制系統 | 實現晶圓小批量半自動測試需求 |
設備環境要求 |
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電源 | 220V±10% |
真空 | -8bar |
壓縮空氣 | 0.6MPa |
特別提示
1. “產品應用示例”欄目下的圖示是為方便客戶理解產品應用而拍攝的產品應用示意圖片,實際銷售的商品配置,請您參考“產品配置說明”或咨詢我司客服人員。
2. 若我司的客服人員無法及時答復您的問題,請麻煩您致電深圳市展芯科技有限公司,:,我們將在zui短的時間內響應您的需求。
品牌簡介-PRCBE
展芯科技是一家專業的探針臺系統研發和生產商,致力于為用戶提供中國(PRC)精準(Precise)、可靠(Reliable)和高性價比(Cost-effective)的探針臺系統。
依托于自有的芯片失效分析實驗室,展芯科技得以根據zui前端的測試需求不斷地研發改進,以滿足用戶日新月異的測試需求。同時,芯片失效分析實驗室也為展芯的提供了理論實際的測試平臺,芯片分析實驗室用戶在使用的同時,也給我司產品提供了寶貴的改進建議。
經過10年的發展和積累,展芯已在的應用技術領域取得了的成績,可針對用戶不同的測試需求定制解決方案,如微弱電流測試(1fA)、RF 和mmW測試(THz)、高功率測試(100A,10kV)、真空高低溫測試(-196℃~800℃)、光電測試等等。
憑借著PRC的產品,展芯贏得了半導體行業內科研機構和公司的信任和尊重,建立了*的合作關系。展芯的已在國內外的科研院所、學校和公司中獲得廣泛的使用,如中科院、廣州五所(賽寶實驗室)、北京自動化設備研究所、電子科技大學、西安電子科技大學、清華大學、北京大學、復旦大學、香港大學、香港科技大學、香港城市大學、華為、中興、比亞迪、富士康等等。
感謝您對展芯的關注,相信我們PRC的產品定能讓您在集成電路 (IC)、電路板、光學器件、MEMS、3D TSV、LCD等*半導體器件的精密電氣測量及測試中獲得精準可靠的測試數據。
售后服務
2年質量保修期
除探針耗材外,展芯科技銷售的產品質量保證期為貨物簽收之日起2年,在此期間若合同標的物出現質量問題,均由展芯負責維修或替換,但以下情況除外:1. 自然原因導致的產品質量衰退、精度下降;2. 人為或不可抗拒的自然現象而發生的損壞;3. 用戶擅自進行的拆解、改裝、功能附加或減除導致的損壞;4. 用戶自行或經第三方維修導致的損壞。
免費終身維護
除探針耗材外,展芯科技銷售的產品均可享受免費終身維護服務。