GAIA3 TESCAN GAIA3電鏡系統(tǒng)
- 公司名稱 上海巨納科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) GAIA3
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/6/3 12:07:17
- 訪問次數(shù) 1766
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TESCAN GAIA3電鏡系統(tǒng)
TESCAN GAIA3電鏡系統(tǒng)*的集成了超高分辨率的電子光學(xué)系統(tǒng)和高性能的離子束系統(tǒng),二者配置于同一樣品室上。GAIA3電鏡以MAIA3場發(fā)射掃描電鏡為平臺(tái),在保留MAIA3*性能的基礎(chǔ)上,增加了使用聚焦離子束進(jìn)行樣品表面處理的功能。GAIA3具有創(chuàng)新性的場發(fā)射電鏡設(shè)計(jì),低電壓下仍具有出色的分辨率,大大提高了其成像能力。與一般電鏡的電磁物鏡相比,GAIA3具有較窄小的電磁物鏡,同時(shí)InBeam-SE探頭和InBeam-BSE探頭的位置都位于透鏡內(nèi),這些設(shè)計(jì)都為FIB及其他分析設(shè)備提供了充足空間,使之能夠在樣品表面完成多項(xiàng)工作。
GAIA3的突出特點(diǎn)
·單極60°電磁物鏡設(shè)計(jì),的SEM分辨率
·*的多種成像模式—大視場模式,分辨率模式以及景深模式—這些功能都基于TESCAN*的大視場光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
·馬達(dá)控制的精準(zhǔn)樣品臺(tái),可進(jìn)行精確的移動(dòng)或傾轉(zhuǎn)操作
·Field-free模式下可對(duì)磁性樣品進(jìn)行有效觀察
·高達(dá)200nA的束流強(qiáng)度
·停留時(shí)間低至20ns的快速電子束刻蝕速度
·FIB的Cobra光學(xué)系統(tǒng),確保聚焦離子束*的分辨率和優(yōu)異的性能,離子束流為1pA到50nA
·強(qiáng)大的DrawBeam軟件包,包含許多可編程設(shè)計(jì)模塊(基礎(chǔ)版和高級(jí)版)來實(shí)現(xiàn)掃描及制樣等過程中可調(diào)參數(shù)的多樣化
·不僅具有對(duì)樣品表面進(jìn)行修飾和觀察的多種功能,*的空間設(shè)計(jì)還能夠使電鏡通過接口兼容多種探測設(shè)備與技術(shù)手段,且還能保持*的分析工作距離
GAIA3的功能特點(diǎn)
對(duì)納米尺度物質(zhì)的成像分析及控制,是當(dāng)今順利開展研究工作的關(guān)鍵,這要求前沿的技術(shù)手段具有分辨率、準(zhǔn)確度、可重復(fù)性、穩(wěn)定性以及靈活性等多方面的優(yōu)異性能。
在前幾代電鏡系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)上,TESCAN推出了GAIA3新一代電鏡系統(tǒng)。它保持了SEM的納米級(jí)分辨率特征,同時(shí)還集成了*的COBRA-FIB聚焦離子束功能,使新一代GAIA3電鏡擁有更加多元化的分析設(shè)備兼容性,提高了分析范圍和分析能力。
GAIA3的一個(gè)突出優(yōu)點(diǎn)在于它低電壓下的掃描電子成像功能,分辨率很高。這對(duì)于研究電子敏感材料或是導(dǎo)電性差的樣品極為重要,低電壓可以降低電子與材料相互作用,從而保證好的分辨率同時(shí)還能獲得好的低電壓襯度。
COBRA-FIB聚焦離子束系統(tǒng)是一項(xiàng)*技術(shù),不論成像拍照還是樣品微觀加工,都能保持很高的尺寸分辨率,是納米工程領(lǐng)域*的FIB設(shè)備。
系統(tǒng)靈活性與工具多樣性
TESCAN致力于為科研人員提供操作便捷、結(jié)果可靠、系統(tǒng)穩(wěn)定的解決方案與技術(shù)手段。TESCAN設(shè)備*的用戶分級(jí)設(shè)計(jì)能夠滿足所有操作者的需求,無論你是應(yīng)用專家,還是偶爾操作人員(只需要通過簡單操作便可獲得出色的實(shí)驗(yàn)結(jié)果)。應(yīng)用專家模式是為長期使用TESCAN電鏡系統(tǒng),能夠充分了解和發(fā)揮電鏡靈活性和擴(kuò)展功能的熟練操作人員設(shè)計(jì)。TESCAN電鏡系統(tǒng)將眾多功能特點(diǎn)整合于*的交互界面,方便快速完成SEM和FIB各種工作模式與功能的觀察條件設(shè)置。
使用GAIA3電鏡可以輕松獲得的圖像質(zhì)量與襯度,尤其是其*的低電壓拍照功能。當(dāng)然,二次電子(SE)與背散射電子(BSE)拍照模式在高電壓與低電壓條件下均可使用,獲得高質(zhì)量樣品照片。
GAIA3還配備了*的自由伸縮式STEM探頭,使用FIB制得TEM薄片樣品后可直接進(jìn)行電鏡觀察。另外,在FIB與SEM雙束電鏡上安裝飛行時(shí)間-二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS),一方面能夠提高質(zhì)譜敏感性,另一方面使用FIB對(duì)樣品表面連續(xù)進(jìn)行連續(xù)切割,可獲得樣品質(zhì)量分布的三維分布圖。
GAIA軟件與自動(dòng)化操作系統(tǒng)
TESCAN的用戶友好型軟件、許多自動(dòng)化程序、遠(yuǎn)程控制系統(tǒng)及腳本庫都致力于幫助用戶獲得出色的結(jié)果,得到業(yè)界與用戶的*認(rèn)可。GAIA3更是為經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶提供了專家級(jí)系統(tǒng)設(shè)置的訪問權(quán),使用戶能夠根據(jù)自身需求進(jìn)行觀察條件的*化設(shè)置。GAIA3擁有多用戶使用環(huán)境、模塊化軟件設(shè)計(jì)、網(wǎng)絡(luò)操作控制以及眾多的擴(kuò)展功能,是一款靈活全面的電鏡設(shè)備。
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