CMI760PCB銅厚測試儀

CMI 700：高靈活性的銅厚測試儀

牛津儀器測厚儀器CMI 760專為滿足印刷電路板行業銅厚測量和質量控制的需求而設計。

CMI 760可用于測量表面銅和穿孔內銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和穿孔內銅厚度準確和精確的測量。CMI 760臺式測量系統具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內銅和微孔內銅厚度的測量、以及孔內銅質量測試的多種應用需求。

同時CMI 760具有*的統計功能用于測試數據的整理分析。

CMI 760配置包括：

• CMI 760主機
• SRP-4探頭
• SRP-4探頭替換用探針模塊（1個）
• NIST認證的校驗用標準片

選配配件：

• ETP探頭
• TRP探頭
• SRG軟件

SRP-4面銅探頭測試技術參數：

銅厚測量范圍：

化學銅：10 μin – 500 μin 0.25 μm – 12.7 μm

電鍍銅：0.1 mil – 6 mil 2.5 μm – 152 μm

線形銅可測試線寬范圍：8 mil – 250 mil 203 μm – 6350 μm

準確度：±1% ±0.1 μm參考標準片

精確度：化學銅：標準差0.2 %；電鍍銅：標準差0.5 %

分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測試技術參數：

可測試zui小孔直徑：35 mils 899 μm

測量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils 1 – 102 μm

電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標準的相關規定

準確度：±0.01 mil 0.25 μm < 1 mil 25 μm

精確度：1.2 mil（30μm）時，達到1.0% （實驗室情況下）

分辨率：0.01 mils 0.1μm

TRP-M（微孔）探頭測試技術參數：

zui小可測試孔直徑范圍：10 – 40 mils 254 – 1016 μm

孔內銅厚測試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）

zui大可測試板厚：175mil （4445 μm）

zui小可測試板厚：板厚的zui小值必須比所對應測試線路板的zui小孔孔徑值高3mils76.2μm

準確度（對比金相檢測法）：±0.01 mil 0.25 μm < 1 mil 25 μm

±10%≥1mil25 μm

精確度：不建議對同一孔進行多次測試

分辨率：0.01 mil0.1 μm

顯示 6位LCD數顯
測量單位 um-mils可選
統計數據 平均值、標準偏差、zui大值max、zui小值min
接口 232串口,打印并口
電源 AC220
儀器尺寸 290x270x140mm
儀器重量 2.79kg