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飛馳(北京)科學儀器有限公司

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Nicomp 380 Z3000 Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀

參考價300000-500000/件
具體成交價以合同協議為準

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奧法美嘉(Alpharmaca)科技有限公司于2010年在上海成立,立足于醫藥行業,耕耘于納米科學材料,化工,半導體,環境科學,汽車,過濾,涂料,墨水,油品等行業,以的納米微米檢測技術,“粒度分析,專注客戶體驗”。這已經成為奧法美嘉團隊的信條。

借助于20多年的行業積累和技術儲備,奧法美嘉將世界上處于技術地位的美國PSS粒度儀公司的激光粒度儀引入到中國市場,秉承著“傳授粒度真知”“普及粒度知識”的理念,伴隨著納米知識的普及,伴隨著中國經濟向制造業的轉型,經過短短幾年,奧法美嘉科技有限公司作為美國PSS粒度儀公司在中國的代表,從COE的建立運營,到如今覆蓋全中國銷售網絡和售后服務網絡,不僅用真誠的態度,而且用務實的知識,獲得了廣大客戶的*好評。

Particle Solutions srl(意大利PSI均質機公司)位于意大利海濱工業城鎮拉齊奧地區,毗鄰歷史的古城羅馬,由從事粒度相關領域內的歐洲科學家以及工程師所組成的團隊發起創立。公司團隊擁有25年粒度檢測知識積累,15年儀器工業設計經驗,15年高壓均質技術經驗及應用研究。

通過深入發掘客戶需求和應用難點,PSI團隊研發出了新型高壓微射流均質機,其穩定可控的均質壓力及高剪切力了工藝可線性放大且可大產量需求,低噪音的設計理念可大大減緩傳統工藝中的高噪音對于操作人員的不利影響,小巧緊湊的機身設計可以*適應從實驗室研發到中試及大生產的各種工作場景。自組建以來,團隊累積了醫藥,生物,半導體,新材料等行業的相關應用經驗。

現奧法美嘉綜合PSS粒度儀和PSI均質機,為中國制造業提供納米技術領域內從生產研發設備到檢測儀器的整套解決方案。


企業文化(Company Philosophy)


“共享 共建 共發展”“求誠 求信 求真知”


現代企業的發展趨勢為規范化、化、文明化、個性化。伴隨著中國經濟的快速發展和騰飛,中國社會的各個層面在發生翻天覆地的變化,“中國制造”的標簽也會逐漸演變為“中國創造”。而企業的發展創造依靠的就是人才!人才是一切發展的基石和動力。這反過來對“人才”從素養,知識,認知,理念等各方面提出了新的要求和高度。

奧法美嘉一直秉承“共享 共建 共發展”的用人理念,“求誠 求信 求真知”的做事理念。在尋求高素質人才的同時,更加注重于已入職員工的培養。員工入職從基礎的醫藥行業準入知識開始培訓,覆蓋知識技能培訓,商務技能培訓,職業規劃到人生規劃。公司的目標之一是希望每個人都能成為合格的項目經理,成為一名有理想有追求有素養的職場人,且能夠獨當一面,實現自己的人生價值!










納米粒度儀,顆粒計數器,不溶性微粒檢測儀,在線粒度檢測儀,高壓微射流均質機,Zeta電位與粒徑分析儀,大乳粒分析儀,粒度儀,激光粒度儀,納米激光粒度儀

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 醫療衛生,化工,生物產業,電子,制藥

Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀
專為復雜體系提供高精度粒度解析方案
基本信息

圖片1.png

儀器型號:Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀

工作原理:

粒度分布:動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

檢測范圍:

粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

ZETA電位 +/- 500mV


Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來,采用動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個電極可以使用成千上萬次。另外,采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既檢測精度,亦幫用戶大大節省檢測成本。



技術優勢


1、APD-LDC&PMT雙檢測器;

2、可搭配不同功率光源;

3、雙列直插式電極和樣品池,可反復使用成千上萬次;

4、鈀電極;

5、精度高,接近樣品真實值;

6、復合型算法:


相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換

7、快速檢測,可以追溯歷史數據;

8、結果數據以多種形式和格式呈現;

9、符合USP,CP等個多藥典要求;

10、無需校準;

11、復合型算法:

(1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換

12、模塊化設計便于維護和升級;

(1)可自動稀釋模塊;

(2)搭配多角度檢測器;

(3)自動進樣系統(選配);



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.pngNicomp多峰分布概念


基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個主要特點,Nicomp人Dave Nicole很早就認識到傳統的動態光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布,這和實踐生產生活中不相符,因為現實中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創性的開創了Nicomp多峰分布理論,大大提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。


圖一:Nicomp多分分布數據呈現


如圖一:此數據為Nicomp人Dave Nicole親測其血液所得的真實案例。其檢測項目為:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由圖中可以看出,其血液中三個組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可見,Nicomp分布模式可以有效反應多組分體系的粒徑分布。



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.pngNicomp多峰分布優勢

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統的DLS系統的結果,更可以通過Nicomp多峰分布模式體現樣品的真實狀況。依托于Nicomp系列儀器一系列的算法和高靈敏性的硬件設計,Nicomp納米激光粒度儀可以有效區分1:2的多分散體系。

圖片3.png圖片4.png


圖二:高斯分布及Nicomp多峰分布對比圖

如圖二:此數據為檢測93nm和150nm的標粒按照1:2的比例混合后所測得的數據。左邊為高斯分布(Gaussian)結果,右圖為Nicomp多峰分布算法結果,兩者都為光強徑數據。從高斯分布可以得到此混合標粒的平均粒徑為110nm-120nm之間,卻無法得到實際的多組分體系結構。從右側的Nicomp多峰分布可以得到結果為雙峰,即如數據呈現,體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,這和實際情況相符。


為滿足不同客戶的實際檢測需求,我司的Nicomp 380 N3000會配備相應的配置,旨在為客戶們在控制成本的基礎上,得到需求的解決方案,取得收益。


產品優勢



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png模塊化設計

Nicomp 380納米激光粒度儀是在應用動態光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的粒度儀。隨著模塊的升級和增加,Nicomp 380的功能體系越來越強大,可以用于各種復雜體系的檢測分析。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png自動稀釋模塊

自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差,且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度,這大大縮短了測試者寶貴時間,且無需培訓,測試結果重現性好,誤差率<1%。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png380/HPLD大功率激光器

美國PSS粒度儀公司在開發儀器的過程中,考慮到在各種實驗測試條件中不同的需求,對不同使用條件和環境配置了不同功率的激光發生器。大功率的激光器可以對小粒子也能搜集到足夠的散射信號,使得儀器能夠得到小粒子的粒徑分布。同樣,大功率激光器在測試大粒子的時候同樣也很有幫助,比如在檢測右旋糖酐大分子時,折射率的特性會引起光散射強度不足。

因為大功率激光器的特性,會彌補散射光強的不足和衰減,測試微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質以及其他大分子不再是一個苛刻的難題。即使沒有色譜分離,Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png雪崩二極管 (APD)高靈敏度檢測器

Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發生器和雪崩二極管檢測器(相比較傳統的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。

APD通常被用于散射發生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,如蛋白質、不溶性膠束、濃度低的體系以及大分子基團,他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發生器模塊,在非常短的時間內就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png380/MA多角度檢測器

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長0.7°的多角度測角器,從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,通過調節角度進行檢測,改善對大粒子多分散系粒徑分析的精度。






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